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(1)無雜散信號分析：通過顯著消除虛假噪聲，反射計能夠產生清晰的測量結果，從而加速研發分析并改進生產中的缺陷檢測，直接提高了效率。
(2)超高靈敏度：IRDiO系列實現了低至-100 dB的靈敏度，能夠以極高的清晰 度捕捉到極其微小的反射。 這提供了高度精確的波形分析和長期的產品可靠性，其靈敏度大約高1000倍。
(3)尖峰波形：高分辨率和寬動態范圍相結合，可提供清晰的波形，在強信號旁邊暴露出最小的反射，從而在分析中提供無與倫比的信心。
(4)雙波長同步測量：Premium可以在短短十秒內同時測量兩個波長的反射損失，當與OPM傳感器頭結合使用時，它可以在一次操作中同時評估反射和插入損失。這消除了重新連接的需要，縮短了節拍時間，并節省了寶貴的實驗室空間。
(5)多光纖測量：Premium與Multi多開關單元結合使用，可自動測量多達24根光纖，從而實現對多根光纖和光學設備的高效檢查和分析。
(6)一步完成RL和IL測量：通過將Premium與OPM探頭結合使用，用戶可以使用單個系統同時自動測量兩個波長的回波損耗和插入損耗。該系統具有無雜散和高靈敏度的性能，能夠清晰地區分可靠產品（無反射峰）和缺陷產品（存在反射峰）。控制軟件還會生成檢查報告，以簡化質量管理。
(7)多通道光纖設備的雙波長反射和插入損耗測量：Premium與Multi配合使用時，可自動檢查多條光纖和分光器等設備。它可以在多個端口同時測量回波損耗和插入損耗。這消除了手動重新連接或切換的需要，為了達到最高效率，只需按下一個按鈕即可測試多個端口。
(8)光學器件中的元件位置和反射分析：Premium具有高空間分辨率、無雜散操作和銳利的波形，能夠精確識別光學設備內部的組件位置，并測量其邊緣產生的反射光。
(9)波導內部反射和傳播損耗分析：Premium系列能夠精確捕捉尖銳的峰值，清晰地分辨出強耦合點反射附近的小反射和散射光。 傳播損耗可以直接從回波損耗分布的斜率計算得出，與傳統的削減方法相比，能夠以更低的成本和更短的時間進行精確的波導分析。
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